模擬結果與跑道視覺化
修正版全跑道掃描
跑道封鎖機率
—
95% 信賴區間：—
跑道開放機率
—
存在至少一處完好 MOS
樣本平均突穿彈頭
—
樣本標準差：—
平均待修彈坑
—
僅統計遭封鎖樣本
平均重新開放時間
—
僅統計遭封鎖樣本
彈坑影響區
完好 MOS
最少修復 MOS
瞄準點
藍色直方圖為實際次數；黃色曲線為以樣本平均數 x̄ 與樣本標準差 s 擬合的常態分配；紫色虛線為樣本平均數 x̄；綠色折線為各突穿彈頭數下的封鎖率。封鎖率折線僅連接有樣本的點，樣本數為 0 的區間不連線。橫軸與常態曲線範圍先涵蓋樣本最小值與最大值，再以 x̄ 為中心取左右較寬的一側做對稱延伸。常態曲線僅供形狀比較，不代表資料已通過常態性檢定。
| MC# | 突穿彈頭 | 結果 | MOS X | MOS Y | 待修彈坑 | 修復時間 |
|---|
次數分配與常態擬合：直方圖顯示突穿彈頭數的實際次數；紫色虛線標示樣本平均數 x̄；黃色曲線以樣本平均數 x̄ 與樣本標準差 s 擬合常態分配，並換算為各一單位組距的預期次數；顯示範圍先涵蓋樣本最小值與最大值，再以 x̄ 為中心取左右較寬的一側做對稱延伸。此曲線僅供分布形狀比較，並非 Shapiro–Wilk、Kolmogorov–Smirnov 等常態性檢定。
大樣本模式：模擬次數最高可設為 1,000,000。超過 20,000 次時，程式以累加統計方式處理全部樣本，僅保留前 2,000 次完整彈坑座標供視覺化，以控制瀏覽器記憶體用量。匯出的 CSV 會包含完整統計、彈頭數分布與保留樣本。
局部放大：局部圖固定採 X、Y 等比例座標，因此圓形彈坑會顯示為正圓；完整跑道總覽仍可使用寬度視覺放大。
亂數產生器：種子亂數適合模型驗證與結果重現；Math.random 適合一般快速試驗；Crypto 安全亂數適合不需重現的獨立隨機試驗。
彈著分布： σ = CEP ÷ 1.1774， X、Y 軸各自抽取標準常態亂數。勾選 VBA 整數化時，採 瞄準點＋Int(σZ)＋1。
彈坑區域： 以彈著點為圓心、輸入半徑為受損區域；勾選 VBA 四捨五入判定時，以半徑加約 0.5 英呎近似原程式的格心距離判定。
MOS 搜索： 修正版以 1 英呎（可調）為起點間距，沿跑道寬度與長度搜索所有可放置的 MOS。若無完好 MOS，則找出與最少「不同彈坑」相交的 MOS，作為優先搶修區。
重新開放時間： 前置時間＋每週期工時 × ⌈待修彈坑數 ÷ 每週期可修彈坑數⌉。預設採 R-3 編組概念：4 小時修復 12 處，另加 1 小時勘查、評估與標定。
大樣本模式：模擬次數最高可設為 1,000,000。超過 20,000 次時，程式以累加統計方式處理全部樣本，僅保留前 2,000 次完整彈坑座標供視覺化，以控制瀏覽器記憶體用量。匯出的 CSV 會包含完整統計、彈頭數分布與保留樣本。
局部放大：局部圖固定採 X、Y 等比例座標，因此圓形彈坑會顯示為正圓；完整跑道總覽仍可使用寬度視覺放大。
亂數產生器：種子亂數適合模型驗證與結果重現；Math.random 適合一般快速試驗；Crypto 安全亂數適合不需重現的獨立隨機試驗。
彈著分布： σ = CEP ÷ 1.1774， X、Y 軸各自抽取標準常態亂數。勾選 VBA 整數化時，採 瞄準點＋Int(σZ)＋1。
彈坑區域： 以彈著點為圓心、輸入半徑為受損區域；勾選 VBA 四捨五入判定時，以半徑加約 0.5 英呎近似原程式的格心距離判定。
MOS 搜索： 修正版以 1 英呎（可調）為起點間距，沿跑道寬度與長度搜索所有可放置的 MOS。若無完好 MOS，則找出與最少「不同彈坑」相交的 MOS，作為優先搶修區。
重新開放時間： 前置時間＋每週期工時 × ⌈待修彈坑數 ÷ 每週期可修彈坑數⌉。預設採 R-3 編組概念：4 小時修復 12 處，另加 1 小時勘查、評估與標定。